Оценочные материалы по дисциплине ОП.02 Электронная техника для специальности 11.02.13 Твердотельная электроника
Документ представляет собой комплект оценочных средств (КОС) для проведения текущего контроля и промежуточной аттестации по дисциплине, формирующей фундаментальные знания в области физики полупроводников, схемотехники и элементной базы электронных устройств. Программа детализирует механизмы проверки знаний, умений и практического опыта, необходимых техникам для анализа, расчета и подбора элементов электронной аппаратуры. 1. Структура и содержание контроля
✓ Оценочные материалы включают паспорт КОС, описание процедур текущего контроля, порядок проведения промежуточной аттестации в форме экзамена и раздел об особенностях контроля для инвалидов и лиц с ограниченными возможностями здоровья.
✓ В паспорте определены цели дисциплины: формирование знаний о физических процессах в электронных приборах и принципах построения электронных схем, а также умений анализировать параметры схем, подбирать элементы по заданным характеристикам и рассчитывать параметры типовых устройств.
✓ Промежуточная аттестация проводится в форме экзамена с выставлением оценки по четырехуровневой системе («неудовлетворительно/удовлетворительно/хорошо/отлично»).
2. Система текущего контроля
✓ Текущий контроль успеваемости реализуется через несколько оценочных средств, охватывающих все ключевые разделы: Оценочное средство 1.1 – тематические контрольные работы по основным разделам, включающим вопросы по полупроводниковым диодам (выпрямительные, стабилитроны, варикапы, свето- и фотодиоды), биполярным транзисторам (устройство, схемы включения, h-параметры), полевым транзисторам (с управляющим p-n-переходом и МДП-структуры) и основам микроэлектроники (классификация ИМС, пленочные, гибридные и полупроводниковые ИМС, логические элементы). Оценочное средство 1.2 – тестирование по электрофизическим основам (более 20 вопросов о собственных и примесных полупроводниках, типах проводимости, физических процессах, диффузионных и дрейфовых токах) и по полупроводниковым диодам (задания на знание УГО, маркировки, вольт-амперных характеристик и соответствия типа диода его свойству).
✓ Предусмотрены также практические работы и внеаудиторная самостоятельная работа (подготовка сообщений, рефератов, презентаций). 3. Содержание проверяемых тем и компетенций
✓ Программа оценивает формирование следующих знаний (31-32): сущность физических процессов в электронных приборах, принципы включения приборов и построения схем.
✓ Проверяемые умения (У1-У3): анализ параметров схем для определения работоспособности, подбор элементов по заданным параметрам, расчет и измерение параметров электронных устройств.
✓ Оцениваемые компетенции: общие (ОК 02, ОК 09) – использование современных средств поиска и анализа информации, работа с профессиональной документацией; и профессиональная (ПК 3.1) – подготовка и запуск технологического оборудования для производства изделий твердотельной электроники.
✓ Основные тематические блоки: Электрофизические основы: собственная и примесная проводимость полупроводников, процессы генерации и рекомбинации, диффузионные и дрейфовые токи, физика p-n-перехода (равновесное состояние, прямое/обратное смещение, ВАХ). Полупроводниковые приборы: диоды (выпрямительные, стабилитроны, варикапы, туннельные, свето- и фотодиоды), биполярные транзисторы (структура, режимы, схемы включения, статические характеристики, h-параметры, работа в ключевом режиме), полевые транзисторы (с управляющим переходом и МДП-типы, характеристики, параметры), тиристоры (динисторы, управляемые и симметричные). Основы микроэлектроники: классификация и маркировка ИМС, пленочные, гибридные и полупроводниковые ИМС, активные и пассивные элементы в интегральном исполнении, логические ИМС (серии ДТЛ, ТТЛ, КМОП), базовые логические элементы и их УГО. 4. Промежуточная аттестация (экзамен)
✓ Форма промежуточной аттестации – экзамен. Для подготовки представлен развернутый список из 51 вопроса, охватывающих все темы: от физики полупроводников и p-n-перехода до принципов работы, параметров и применения всех типов диодов, транзисторов, тиристоров, а также основ микроэлектроники и логических ИМС.
✓ Процедура: экзамен проводится по билетам. Студент делает записи в листе ответа с обязательными реквизитами. Экзаменатор имеет право задавать дополнительные вопросы и предлагать задачи. Допуск к экзамену осуществляется при условии полного выполнения всех практических, лабораторных и контрольных работ.
✓ Критерии оценки (по четырехуровневой системе):
«отлично» – четкое, логичное изложение материала, свободное владение понятиями, обоснование физической сущности процессов с помощью схем и формул, уверенные ответы на дополнительные вопросы.
«хорошо» – знание материала, но недостаточная аргументация, некоторые затруднения при объяснении практического применения.
«удовлетворительно» – знание основного материала, но значительные затруднения в объяснениях.
«неудовлетворительно» – незнание большей части программы, отсутствие ответов на дополнительные вопросы. 5. Условия проведения контроля
✓ Контроль проводится на практических и лабораторных занятиях, включая оценку навыков составления электронных схем и работы со справочными материалами для подбора элементов.
✓ В случае нарушения дисциплины или использования неразрешенных материалов на экзамене, студент может быть отстранен с оценкой «неудовлетворительно».
✓ Для инвалидов и лиц с ОВЗ предусмотрены особые условия: индивидуальное общение с преподавателем, дублирование объяснений, возможность присутствия ассистента, предоставление услуг сурдо- и тифлоперевода, право выбора последовательности выполнения заданий и увеличение времени, а также замена устной формы ответа на письменную и наоборот.
☀ Ознакомиться с документом можно на официальном сайте учебного заведения ☀
✅
Новинки
Нет содержания для этого блока
Все права на документы принадлежат их правообладателям. Ссылки ведут на официальные источники